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光学仪器及设备
数码显微镜 徕卡DVM6
工业倒置显微镜徕卡DMi8 M / C / A
立式材料显微镜徕卡DM2700 M
材料分析显微镜 徕卡DM1750 M
美能达色差计
冷冻透射电子显微镜
FEI扫描电镜SEM Helios NanoLab
赛默飞(原FEI) Scios DualBeam双束电子显微镜
Themis Z材料科学
赛默飞FEI透射电镜Thermo Scientific Metrios™
包装行业专用仪器
水汽透过率分析仪7101
Worker Integra检漏仪
水蒸气渗透分析仪Lyssy L80-5000
先进的静态和动态摩擦系统
先进的摆锤冲击系统
通用型落锤冲击测试仪
FD-A2高级落地落镖冲击测试仪
手动高级落镖冲击测试仪
8001系列氧气透过率分析仪
7000系列水蒸气透过率分析仪
工业在线及过程控制仪器
可编程氧气分析仪542
氧渗透分析仪8200
本安型便携式氧气分析仪EC92DIS
GS6000系列顶空分析仪
GS系列顶空分析仪
气瓶氧气取样分析系统
Systech Illinois新型渗透仪8101e ASTM D3985
EC96缺氧/富氧检测仪
Zr810氧化锆氧分析仪
5250i氧气和溶解氧分析仪
橡塑行业专用测试仪
带自动切断的熔融指数仪MFR200
针对高熔指聚合物的6MPCA高级融指仪
HDV6热变形维卡测试仪
薄料微切割机
CNC模型1测试样本轮廓切割机
自动循环测试样品切槽机
测试样品注射成型设备
手动切片机
PCP气动冲切刀
试验机
英斯特朗5960系列双立柱台式试验机
英斯特朗MDX系列大载荷液压万能材料试验机
英斯特朗5940系列单立柱台式试验机
英斯特朗3360系列双立柱台式材料试验机
英斯特朗LX系列液压万能材料试验机
8803电液伺服疲劳试验系统
英斯特朗MPX系列摆锤冲击试验机
IMT摆锤冲击仪
测量/计量仪器
东京精密工作台回转型CNC圆度圆柱度形状测量机
东京XYZAX系列精密三坐标测量机
东京精密粗糙度仪SURFCOM NEX 001
东京精密圆度仪Rondcom 47B
大型圆度仪R73A
东精精密圆度、圆柱度仪Rondcom 65B
大型圆度仪Rondcom 65A-LH
实验室服务
三维3d扫描仪扫描租赁检测服务
激光跟踪仪租赁检测服务
炉前显示系统
钢厂钢板轧机检测服务
三维扫描检测逆向设计服务
进口法如关节臂/便携式三坐标租赁检测服务
关节臂租赁检测测量服务
无损检测/无损探伤仪器
工业内窥镜C40-6015TH
古安泰分体式/台式工业内窥镜
古安泰工业高清内窥镜
数字型超声波探伤仪
光谱检测分析仪
赛默飞ARL 8820光电直读光谱仪
美国热电直读光谱仪ARL iSpark 8860
赛默飞直读ARL3460直读光谱仪
赛默飞ICAP7000电感等离子体发射光谱仪
水分测定仪
水分测量仪MM300
水分测定仪MM400
水分检测仪MM500
比表面积测定仪
表面音波张力仪U508
皮带张力计ET
其他
Discovery Pro分析密度天平
Adventurer Pro分析密度天平
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产品描述
Helios NanoLab 的材料科学应用
在材料科学领域,研究人员面临的挑战是持续改善目前制造的材料和设备的质量。为了实现技术进步,在纳米量级了解结构和成分细节至关重要。Helios NanoLab 设计用来以低至亚纳米量级的分辨率提供多尺度、多维度洞察,让研究人员能够观测样本*微小的细节。Helios NanoLab 还可为原子分辨率 S/TEM 成像迅速制备**质量的样本。此外,如果研究工作包括开发 MEMS 或 NEMS 器件,也可配备 Helios NanoLab 打造全功能原型。
Helios NanoLab 的电子工业应用
Helios NanoLab 是一款极其灵活的平台,既能以极高的效率制备 TEM 样本,又能开展高性能低电压成像以分析高级逻辑和存储器件。Helios Nanolab 具有大型和小型样本室两个配置,效率极高,并且是面向实验室和近生产环境的低每样本成本半导体分析工作流的关键组成部分。
Helios NanoLab 的生命科学应用
要想在三维背景下了解生物事件,就必须采用专用的成像解决方案,而且这些成像解决方案应能以极高的分辨率呈现极小的细节,从而揭示出复杂网络的超微结构和空间结构。Helios NanoLab 具有**的 SEM 性能和可靠、精确的 FIB 切片能力,还配备了高精度压电工作台,堪称小型 DualBeam 平台的**之选。出色的成像能力,辅以透镜内和柱内检测器提供的尖端高对比度检测技术,能够实现真正**的对比度。