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光学仪器及设备
数码显微镜 徕卡DVM6
工业倒置显微镜徕卡DMi8 M / C / A
立式材料显微镜徕卡DM2700 M
材料分析显微镜 徕卡DM1750 M
美能达色差计
冷冻透射电子显微镜
FEI扫描电镜SEM Helios NanoLab
赛默飞(原FEI) Scios DualBeam双束电子显微镜
Themis Z材料科学
赛默飞FEI透射电镜Thermo Scientific Metrios™
包装行业专用仪器
水汽透过率分析仪7101
Worker Integra检漏仪
水蒸气渗透分析仪Lyssy L80-5000
先进的静态和动态摩擦系统
先进的摆锤冲击系统
通用型落锤冲击测试仪
FD-A2高级落地落镖冲击测试仪
手动高级落镖冲击测试仪
8001系列氧气透过率分析仪
7000系列水蒸气透过率分析仪
工业在线及过程控制仪器
可编程氧气分析仪542
氧渗透分析仪8200
本安型便携式氧气分析仪EC92DIS
GS6000系列顶空分析仪
GS系列顶空分析仪
气瓶氧气取样分析系统
Systech Illinois新型渗透仪8101e ASTM D3985
EC96缺氧/富氧检测仪
Zr810氧化锆氧分析仪
5250i氧气和溶解氧分析仪
橡塑行业专用测试仪
带自动切断的熔融指数仪MFR200
针对高熔指聚合物的6MPCA高级融指仪
HDV6热变形维卡测试仪
薄料微切割机
CNC模型1测试样本轮廓切割机
自动循环测试样品切槽机
测试样品注射成型设备
手动切片机
PCP气动冲切刀
试验机
英斯特朗5960系列双立柱台式试验机
英斯特朗MDX系列大载荷液压万能材料试验机
英斯特朗5940系列单立柱台式试验机
英斯特朗3360系列双立柱台式材料试验机
英斯特朗LX系列液压万能材料试验机
8803电液伺服疲劳试验系统
英斯特朗MPX系列摆锤冲击试验机
IMT摆锤冲击仪
测量/计量仪器
东京精密工作台回转型CNC圆度圆柱度形状测量机
东京XYZAX系列精密三坐标测量机
东京精密粗糙度仪SURFCOM NEX 001
东京精密圆度仪Rondcom 47B
大型圆度仪R73A
东精精密圆度、圆柱度仪Rondcom 65B
大型圆度仪Rondcom 65A-LH
实验室服务
三维3d扫描仪扫描租赁检测服务
激光跟踪仪租赁检测服务
炉前显示系统
钢厂钢板轧机检测服务
三维扫描检测逆向设计服务
进口法如关节臂/便携式三坐标租赁检测服务
关节臂租赁检测测量服务
无损检测/无损探伤仪器
工业内窥镜C40-6015TH
古安泰分体式/台式工业内窥镜
古安泰工业高清内窥镜
数字型超声波探伤仪
光谱检测分析仪
赛默飞ARL 8820光电直读光谱仪
美国热电直读光谱仪ARL iSpark 8860
赛默飞直读ARL3460直读光谱仪
赛默飞ICAP7000电感等离子体发射光谱仪
水分测定仪
水分测量仪MM300
水分测定仪MM400
水分检测仪MM500
比表面积测定仪
表面音波张力仪U508
皮带张力计ET
其他
Discovery Pro分析密度天平
Adventurer Pro分析密度天平
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产品系列
透射电子显微镜
透射电镜
**个专门用于半导体行业的TEM
Thermo Scientific Metrios™系统是**台透射电子显微镜(TEM),专用于提供半导体制造商开发和控制其晶圆制造工艺所需的快速,精确的测量。基本TEM操作和测量程序的广泛自动化将对专业操作员培训的要求降至*低。其先进的自动计量例程比手动方法具有更高的精度。与其他TEM相比,Metrios TEM旨在为客户提供更高的通量和更低的每样品成本。
半导体的Metrios SEM
大量TEM数据,准确且可重复-以*低的每次采样成本
Thermo Scientific Metrios™透射电子显微镜(TEM)是**款专门提供半导体制造商开发和控制其晶圆制造工艺所需的快速,精确测量的TEM。
先进的逻辑和存储器制造过程越来越依赖于精确结构和分析数据的快速周转,从而能够快速校准工具集,诊断良率偏差并优化过程良率。在低于28nm的技术节点上,尤其是在实施非平面器件设计的情况下,传统的SEM或基于光学的分析和检查工具无法提供有用的数据。我们的Metrios TEM自动执行基本的TEM操作和测量程序,并**限度地减少了对专业操作员培训的要求。其先进的自动计量例程比手动方法具有更高的精度。Metrios TEM旨在以*低的每次样品成本提供大量TEM数据,准确且可重复的操作。
Thermo Scientific™Metrios™DX TEM结合了可靠的技术和创新的新功能,是半导体和存储环境的**平台,需要对越来越复杂的结构和不断缩小的几何尺寸进行大量精确的测量。
主要好处
始终如一的,可重复的,精确的,从头开始的设计,可提供可重复的TEM和基于S / TEM的成像,分析和可计量的计量,而无需操作员偏见
保证计量精度,TEM和S / TEM的畸变和放大率校准中的组合误差小于1%
自动化的EDS和混合计量,通过自动化获取和量化EDS数据。在关键的关键尺寸上使用元素对比来扩展STEM
通过样品制备,拔除和成像跟踪工作流程的连通性,关键过程数据。可以离线应用计量,以**程度地获取工具。所有成像和计量数据都整合在基于Web的图像查看器中。